更新時(shí)間：2024-06-18
儀器型號(hào)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； 所有型號(hào)均可配所有探頭；
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德國EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest3100特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest3100技術(shù)特征：
| 型號(hào) | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值） | 1 | 500 | ||
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) | 1 | |||
| 數(shù)據(jù)總量 | 10000 | 10000 | 10000 | |
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | √ | |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | ||
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | √ | |||
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 | √ | √ | ||
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 | √ | √ | √ | |
| 其他功能 | ||||
| 設(shè)置極限值 | √ | √ | ||
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值 | √ | √ | ||
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | √ | √ | ||
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值 | √ | √ | ||
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest3100可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率半徑 | zui小測(cè)量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±（1%±0.3mm） | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
 | FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高（O.1μm） |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 |
 | F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高（O.1μm） |
 | N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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