更新時間:2024-06-18
儀器型號:
創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
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德國EPK公司MINITEST 730涂層測厚儀
MINITEST 730涂層測厚儀有8種型號訂貨時注意:
MINITEST 730F1.5涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-1500um |
MINITEST 730N07涂層測厚儀 | 非鐵基體0-700um |
MINITEST 730FN1.5兩用型涂層測厚儀 | 兩用型0-1500um(F),0-700um(N) |
MINITEST 730F2鐵基體涂層涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-2000um |
MINITEST 730F5涂層測厚儀 | 鐵基體涂層0-5000um |
MINITEST 730N2.5涂層測厚儀 | 非鐵基體0-2500um |
MINITEST 730FN5涂層測厚儀 | 兩用型0-5000um(F),0-2500um(N) |
MINITEST 730F15涂層測厚儀 | 鐵基體(0-15m) |
創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭,模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MINITEST 730涂層測厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線,加強了EPK在涂層測厚市場的.
有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀優(yōu)點一覽:
SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確
可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
菜單指引操作,25種語言可選
帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
可下載更新軟件
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置
帶塑料手提箱,內(nèi)含 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
或MINITEST 730(外置探頭)
或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
校準套裝含校準片和零板
操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
2節(jié)AA電池
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||
精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) |
型號特性 | MINITEST 730 |
探頭類型 | 外置 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置) |
校準程序符合標準和規(guī)范 | ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準 |
校準模式 | 出廠設(shè)置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值 |
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 |
測量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou |
操作溫度 | -10℃-60℃ |
存放溫度 | -20℃-70℃ |
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) |
電源 | 2節(jié)AA電池 |
標準 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm |
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